光谱探头和光谱分析仪
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要

本实用新型公开一种光谱探头和光谱分析仪。其中,该光谱探头包括:外壳、设于外壳的多个发光组件及至少一个光敏传感器;外壳设置有安装槽和与所述安装槽间隔设置的容置槽,所述安装槽和所述容置槽的槽口呈同向设置,所述外壳为遮光材质,多个所述发光组件产生多束不同波长的光束,多束光束照射至待测试物品,所述光敏传感器采集待测试物品反射的光束;多个所述发光组件设于所述容置槽内,所述光敏传感器设于所述安装槽内;或,所述光敏传感器设于所述容置槽内,多个所述发光组件设于所述安装槽内。本实用新型光谱探头简化光谱分析仪的结构,提高光谱分析仪的可维护性。

基本信息
专利标题 :
光谱探头和光谱分析仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020868787.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-21
授权号 :
CN212301281U
授权日 :
2021-01-05
发明人 :
刘小雄陈文洪彭建勇邓子明李杰辉杨冬林
申请人 :
深圳市拓普泰克电子有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区石岩街道浪心社区料坑第三工业区3号二层至六层
代理机构 :
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司
代理人 :
邝艳菊
优先权 :
CN202020868787.4
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01  G01N21/25  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2021-02-23 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01N 21/01
变更事项 : 专利权人
变更前 : 深圳市拓普泰克电子有限公司
变更后 : 深圳市拓普泰克技术股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道浪心社区料坑第三工业区3号二层至六层
变更后 : 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道浪心社区料坑第三工业区3号二层至五层;在宝安区石岩街道松白路创维数字大厦403A室设有办公场所
2021-01-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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