一种热电器件性能测试系统
授权
摘要

本实用新型涉及一种热电器件性能测试系统,包括加压支架以及安装于支架中的加热块和冷却块,用于给热电器件的热端加热以及给热电器件的冷端冷却,测试系统还包括测试电路;测试电路包括与热电器件输出电极电连接的可瞬时调节电阻值的电子负载;测试电路通过瞬时调节电子负载的电阻值,且测量不同电阻值下热电器件输出的电流值和电压值,从而获得热电器件的发电性能参数。该系统在测试热电器件发电功率的过程中采用电子负载瞬态调节负载电阻值,可消除由于帕尔贴效应所引起的热电器件两端温差减小,从而提升测试准确度,缩短测试时间。

基本信息
专利标题 :
一种热电器件性能测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020892941.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-25
授权号 :
CN212255564U
授权日 :
2020-12-29
发明人 :
付强吴志敏
申请人 :
深圳职业技术学院
申请人地址 :
广东省深圳市南山区西丽湖
代理机构 :
深圳瑞天谨诚知识产权代理有限公司
代理人 :
王昌花
优先权 :
CN202020892941.1
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-12-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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