一种光学器件高精度组装检测的预推机构
著录事项变更
摘要

本实用新型公开了一种光学器件高精度组装检测的预推机构,安装在一检测机上的牢固性检测工位处,包括:底座以及安装在所述底座上的:能够驱动产品做XYZ轴向移动的预推组件产品放置平台、设于所述预推组件产品放置平台邻侧且用于对所述预推组件产品放置平台上的产品进行压力测试的预推上下施压测试组件以及用于清洗预推头的下推头清洗组件;所述预推机构还包括控制所述预推上下施压测试组件运行的预推组件控制部。本实用新型的结构检测过程,全自动快速完成,检测稳定性好,洁净度高,检测精度得到保证,大大满足生产的需求。

基本信息
专利标题 :
一种光学器件高精度组装检测的预推机构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020961263.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-29
授权号 :
CN211977861U
授权日 :
2020-11-20
发明人 :
李小根胡争光师利全罗东贺天文张炜张强
申请人 :
深圳市鑫三力自动化设备有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市坪山区坪山街道六和社区行政一路4-147,招商花园城17栋S1702
代理机构 :
深圳市中联专利代理有限公司
代理人 :
朱以智
优先权 :
CN202020961263.X
主分类号 :
G01B21/02
IPC分类号 :
G01B21/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2021-03-16 :
著录事项变更
IPC(主分类) : G01B 21/02
变更事项 : 发明人
变更前 : 李小根 胡争光 师利全 罗东 贺天文 张炜 张强
变更后 : 李小根 胡争光 师利全 罗东 贺天文 张炜 刘强
2020-11-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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