一种电子实验测试结构
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种电子实验测试结构,包括安装面,所述安装面顶部的左右两端均通过安装螺栓活动连接有底板,所述底板的顶部固定连接有套筒,所述套筒内腔底部的左右两端均固定连接有减震弹簧,所述减震弹簧的顶部固定连接有滑板,所述滑板的顶部固定连接有活动杆,所述套筒内侧的顶壁固定连接有数量为四个的支架,所述支架的内侧固定连接有滚轮,所述活动杆的顶部固定连接有测试台。该电子实验测试结构,通过夹持弹簧的弹力对电路板进行夹持,避免了电路板因夹持力过大或过小而发生损坏和夹持不稳的情况,同时具备减震功能,避免了电路板因外部的震动力而发生损坏,且操作简单,有效的对电路板进行保护,方便使用,适用于各种情况。

基本信息
专利标题 :
一种电子实验测试结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020967761.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-01
授权号 :
CN212229101U
授权日 :
2020-12-25
发明人 :
闫德林
申请人 :
江西工程学院
申请人地址 :
江西省新余市仙来西大道859号
代理机构 :
深圳市智旭鼎浩知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
周超
优先权 :
CN202020967761.5
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  G09B23/18  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-07 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20200601
授权公告日 : 20201225
终止日期 : 20210601
2020-12-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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