一种电子技术实验用测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种电子技术实验用测试装置，包括测试台、滑动组件、照明组件和测试仪本体，所述测试台的下端设置有支脚架，所述固定块的一侧设置有滑动组件，所述测试仪本体安装在固定平台的下端，且测试仪本体的下方设置有照明组件，本实用新型通过在测试台上设置滑动组件，将被测试电子元件安装在滑动组件上，对其进行滑动直至合适位置经过测试仪本体测试得出测试结果，这种结构可以通过滑动滑块间接滑动被测试电子元件，避免出现测试结果产生误差的情况，通过设置照明组件可以在实验室或者天气等原因出现光线过暗情况时，对被测试电子元件测试部分进行灯照，提高亮度，有效的避免了光线不足测试时产生的结果误差。
基本信息
专利标题 ：
一种电子技术实验用测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920696139.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-15
授权号 ：
CN211402558U
授权日 ：
2020-09-01
发明人 ：
商德祥
申请人 ：
湖北神龙工程测试技术有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市武汉经济技术开发区沌口街联城路108号
代理机构 ：
上海宣宜专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘洁瑜
优先权 ：
CN201920696139.2
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-09-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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