用于空间X射线探测的MPO镜片可见光透过率检测装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种用于MPO镜片可见光透过率检测装置，所述检测装置包括主线检测光路、支线检测光路、第一半反半透镜和第二半反半透镜，所述主线检测光路包括分光子光路和检测子光路，所述第一半反半透镜设置在分光子光路上，所述支线检测光路通过第一半反半透镜垂直连接分光子光路，所述第二半反半透镜设置在主线检测光路相反于光源的另一端，所述检测子光路通过第二半反半透镜垂直连接分光子光路，本实用新型所述检测装置可以快速、有效测得特定波长处镜片多个区域的透过率，操作方便，同时可根据实际需要灵活设置、调整，高效辅助镜片研制及筛选工作。
基本信息
专利标题 ：
用于空间X射线探测的MPO镜片可见光透过率检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020994888.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-03
授权号 ：
CN212321436U
授权日 ：
2021-01-08
发明人 ：
杨雪张臣
申请人 ：
中国科学院国家天文台
申请人地址 ：
北京市朝阳区大屯路甲20号
代理机构 ：
北京金智普华知识产权代理有限公司
代理人 ：
巴晓艳
优先权 ：
CN202020994888.6
主分类号 ：
G01N21/59
IPC分类号 ：
G01N21/59 G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/59
透射率
法律状态
2021-01-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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