一种低电阻测试结构

授权

摘要

本实用新型公开了一种低电阻测试结构，包括基座板和垂直固定于基座板上的立板，立板的正面固定有下压气缸，下压气缸的输出端作用于压板，压板两端均通过导向柱滑动设有上高导电金属块，且上高导电金属块与压板之间设有簧柱，基座板上在压板下侧设有固定座，固定座上与上高导电金属块对应的设有下高导电金属块，用于设置待测式产品。本实用新型结构简洁合理，产品的线接触改为面接触，有效的增大了测试面积，且测试过程固定稳定可靠，测试数据准确性高。

基本信息

专利标题：

一种低电阻测试结构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021047097.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-06-09

授权号：

CN212622699U

授权日：

2021-02-26

发明人：

张利荣陈建保杨娟

申请人：

鸿硕精密电工（苏州）有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市苏州高新区鹿山路128号

代理机构：

苏州名飞扬知识产权代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

杨林

优先权：

CN202021047097.9

主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R1/04 G01R31/00