一种链式电阻测试结构及测试系统
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要

本实用新型提供一种链式电阻测试结构及测试系统,包括至少一个测试单元;所述测试单元包括至少两条测试链;每条测试链包括至少一个位于第一电介质层的第一导电结构、至少一个位于第二电介质层的第二导电结构和至少一个连接结构,第一导电结构与第二导电结构通过连接结构电连接,以形成测试链;所述的至少两条测试链通过第一导电结构或第二导电结构实现并联,以形成测试单元;所有测试单元通过第一导电结构或第二导电结构串联,以形成链式电阻测试结构。

基本信息
专利标题 :
一种链式电阻测试结构及测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020138147.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-21
授权号 :
CN211955654U
授权日 :
2020-11-17
发明人 :
杨慎知刘慧斌章中强
申请人 :
杭州广立微电子有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市西湖区华星路99号东软创业大厦A407室
代理机构 :
杭州丰禾专利事务所有限公司
代理人 :
王静
优先权 :
CN202020138147.8
主分类号 :
G01R27/02
IPC分类号 :
G01R27/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2021-01-15 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01R 27/02
变更事项 : 专利权人
变更前 : 杭州广立微电子有限公司
变更后 : 杭州广立微电子股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 310012 浙江省杭州市西湖区华星路99号东软创业大厦A407室
变更后 : 310012 浙江省杭州市西湖区华星路99号东软创业大厦A407室
2020-11-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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