一种TEM样品承载装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种TEM样品承载装置，包括附连元件(11)，所述附连元件(11)形成于基底(10)的一个侧面，附连元件(11)上粘接附连样品(12)，附连样品(12)的一个表面正对离子束，基底(10)旋转90度后，附连样品(12)的另一个表面正对离子束，离子束不会被基底(10)的一部分遮挡住。本实用新型的TEM样品承载装置适用于加工附连样品的多个表面，实现了同一个附连样品，多区域TEM观测功能。
基本信息
专利标题 ：
一种TEM样品承载装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021063875.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-10
授权号 ：
CN212514335U
授权日 ：
2021-02-09
发明人 ：
钟超荣贾奕柠雷炜斌黄荣
申请人 ：
华东师范大学
申请人地址 ：
上海市普陀区中山北路3663号
代理机构 ：
北京恒创益佳知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
付金豹
优先权 ：
CN202021063875.3
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04 G01N1/28 G01N23/22 G01N23/2204
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2021-02-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
