一种TEM样品承载装置
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种TEM样品承载装置，包括基底(10)和附连元件，所述基底和附连元件分体设置；所述基底(10)轮廓为一半圆环结构；所述基底(10)和所述附连元件粘连在一起，所述附连元件粘连在所述基底(10)半圆环结构的两翼上；所述附连元件为一矩形薄片(13)加工制成；所述矩形薄片(13)上方至少有一矩形开槽(131)；所述矩形薄片(13)上的矩形开槽(131)一侧有一细长开槽作为样品标志位置(132)；所述附连元件上的矩形开槽(131)适于附连样品。本实用新型的附连元件为一矩形薄片(13)加工制成，附连样品的上方和左右均无遮挡物，更有利于样品制备和高精度离子减薄仪连用，进一步提高样品质量。
基本信息
专利标题 ：
一种TEM样品承载装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021134329.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-18
授权号 ：
CN212514336U
授权日 ：
2021-02-09
发明人 ：
钟超荣贾奕柠雷炜斌黄荣
申请人 ：
华东师范大学
申请人地址 ：
上海市普陀区中山北路3663号
代理机构 ：
北京恒创益佳知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
付金豹
优先权 ：
CN202021134329.4
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04 G01N1/28 G01N23/20025 H01J37/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2022-06-07 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 23/04
申请日 : 20200618
授权公告日 : 20210209
终止日期 : 20210618
申请日 : 20200618
授权公告日 : 20210209
终止日期 : 20210618
2021-02-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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