一种高精度对位扎针检测机构
授权
摘要
本实用新型公开了一种高精度对位扎针检测机构，包括支撑底板(1)以及主体针模(7)，主体针模与针模固定板(12)连接固定，针模固定板设置有升降组件，通过升降组件来实现升降并利用油压缓冲器(4)缓冲，油压缓冲器(4)安装于针模固定板上并穿过针模固定板，产品与主体针模(7)针点对位采用CCD(10)与CCD滑台(5)通过棱镜(8)与LED灯(6)拍摄产品MRKE点与针模对应特征孔。本实用新型让高精度针点对位机构能够快速对位，代替人员单独对点调节不可靠，识别差，调节异常困难，提升产品扎针测试良率，实现工作效率稳定可靠，产品产能保障，节省人力。
基本信息
专利标题 ：
一种高精度对位扎针检测机构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021150502.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-19
授权号 ：
CN215005637U
授权日 ：
2021-12-03
发明人 ：
袁乐
申请人 ：
深圳市博辉特科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区观湖街道樟坑径社区上围村宝业路6号厂房1101栋
代理机构 ：
深圳市卓科知识产权代理有限公司
代理人 ：
邵妍
优先权 ：
CN202021150502.X
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-12-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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