对位机构、基于对位机构的对位方法及可读存储介质
实质审查的生效
摘要
本申请提供一种对位机构、基于对位机构的对位方法及可读存储介质，基于对位机构的对位方法包括步骤：基于移动件的目标驱动量发出驱动信号，驱动组件根据驱动信号驱动移动件至目标位置；基于第一位置传感器及第二位置传感器读取的移动件的实际驱动量，根据实际驱动量计算移动件旋转的角度θr；定义移动件的两端在X方向的实际驱动量为X1r和X2r，移动件在Y方向的实际驱动量为Yr；及判断θr及Yr是否满足终止对位条件；若判断结果为满足，则发出停止驱动信号，驱动组件根据停止驱动信号停止驱动所件；若判断结果为不满足，则自步骤基于第一平台的目标驱动量发出驱动信号，驱动组件根据驱动信号驱动移动件至目标位置开始重复上述步骤。
基本信息
专利标题 ：
对位机构、基于对位机构的对位方法及可读存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114459406A
申请号 ：
CN202210053209.9
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2022-01-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李德荣
申请人 ：
武汉华星光电半导体显示技术有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道666号光谷生物创新园C5栋305室
代理机构 ：
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
王红红
优先权 ：
CN202210053209.9
主分类号 ：
G01B21/02
IPC分类号 ：
G01B21/02 G02F1/13 B65G49/06 B65G47/22 B65G47/74
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-05-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 21/02
申请日 : 20220118
申请日 : 20220118
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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