一种超声相控阵小角度纵波探头用校准/对比试块
授权
摘要
本实用新型公开了一种超声相控阵小角度纵波探头用校准/对比试块，包括阶梯状试块主体(1)，开设在阶梯状试块主体(1)第一阶梯上的声束偏转评价用横通孔(3)，开设在其他阶梯上的不同深度范围的横通孔(2)，开设在其他阶梯上的不同深度范围的平底孔(4)，以及位于相邻不同深度范围的横通孔(2)与不同深度范围的平底孔(4)之间的不同深度范围的大平底(5)。本实用新型可以用于纵波直入射、小角度纵波、阶梯测厚等工况的声速、延迟、灵敏度校准，小角度纵波声束偏转评价，横通孔与平底孔TCG校准，水平线性、垂直线性、盲区与灵敏度余量等工作性能的测试。
基本信息
专利标题 ：
一种超声相控阵小角度纵波探头用校准/对比试块
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021183243.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-23
授权号 ：
CN212514423U
授权日 ：
2021-02-09
发明人 ：
王飞赵阳王方方张喜雷杰王鹏飞
申请人 ：
西安热工研究院有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市碑林区兴庆路136号
代理机构 ：
西安通大专利代理有限责任公司
代理人 ：
闵岳峰
优先权 ：
CN202021183243.0
主分类号 ：
G01N29/30
IPC分类号 ：
G01N29/30 G01N29/07 G01N29/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/22
零部件
G01N29/30
校准或比较，例如，用标准物体
法律状态
2021-02-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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