一种薄膜厚度检测装置
授权
摘要

本实用新型涉及厚度检测的技术领域,更具体地说,它涉及一种薄膜厚度检测装置,其包括下把手,下把手上表面安装有下激光探头,下激光探头的外面安装有下保护套,下保护套上安装有下垫片,下把手上表面滑移设置有两个支撑柱,所述支撑柱呈竖直设置,所述支撑柱顶端固定设置有放置块,所述放置块的上表面开设有用于对薄膜进行定位的定位槽,所述定位槽的槽底与所述下垫片的上表面齐平,所述定位槽内卡接配合有用于固定薄膜的固定块,所述定位槽的槽底固定设置有第一磁铁,所述固定块的下表面固定设置有与所述第一磁铁吸附的第二磁铁。本实用新型具有避免薄膜在测量的过程中发生偏移的效果,提高了测量的准确性。

基本信息
专利标题 :
一种薄膜厚度检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021205320.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-28
授权号 :
CN212274877U
授权日 :
2021-01-01
发明人 :
陈芳荣柳良德明永奎
申请人 :
东莞市全丰新材料科技有限公司
申请人地址 :
广东省东莞市石碣镇鹤田厦村富田路18号工业园6号厂房
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021205320.8
主分类号 :
G01B11/06
IPC分类号 :
G01B11/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2021-01-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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