用于检测导体位置的检测装置及导线加工设备
授权
摘要
本实用新型涉及用于检测导体位置的检测装置及导线加工设备。所述用于检测导体位置的检测装置包括支架、多个导电探针，所述导电探针分别设置在所述支架上并相互间隔设置；所述导电探针具有一检测位置；在所述检测位置，通过检测所述导电探针是否通过被测导体电连接，判断被测导线是否位于指定的位置。本实用新型中的用于检测导体位置的检测装置、导线加工设备及导线加工中检测导体位置的方法，可自动检测导体是否处于指定位置，为导线的进一步自动化加工提供了基础。
基本信息
专利标题 ：
用于检测导体位置的检测装置及导线加工设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021250258.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-30
授权号 ：
CN212658815U
授权日 ：
2021-03-05
发明人 ：
王震朱艺群齐格弗里德·贝克
申请人 ：
泰科电子（上海）有限公司;泰连德国有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区英伦路999号15幢一层F、G、H部位
代理机构 ：
上海脱颖律师事务所
代理人 ：
脱颖
优先权 ：
CN202021250258.4
主分类号 ：
G01R31/58
IPC分类号 ：
G01R31/58 G01R31/54 G01R31/66 G01R1/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/58
测试线路、电缆或导体
法律状态
2021-03-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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