一种测量头组件及测厚装置

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摘要

本实用新型涉及检测领域，公开一种测量头组件及测厚装置，包括：支架，支架上形成有允许包装材料通过的通道；安装于支架上红外线测头，且沿通道的延伸方向红外线测头位于通道的至少一侧；红外线测头具有用于与阻挡层为铝箔的包装材料匹配的第一波长以及用于与阻挡层为可微波材料的包装材料匹配的第二波长。上述测量头组件及测厚装置既能测量阻挡层为铝箔的包装材料中聚合物层的厚度，又能测量阻挡层为可微波材料的包装材料中聚合物层的厚度，解决了现有技术中测厚装置兼容性低的问题。

基本信息

专利标题：

一种测量头组件及测厚装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021250840.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-06-30

授权号：

CN212179821U

授权日：

2020-12-18

发明人：

马蒂亚斯·科尔延斯·丹克沃特陈海峰斯特凡·格兰尼尔

申请人：

康美包（苏州）有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市工业园区星龙街399号

代理机构：

北京同达信恒知识产权代理有限公司

代理人：

刘红彬

优先权：

CN202021250840.0

主分类号：

G01B11/06

IPC分类号：

G01B11/06