功耗测量组件及方法、芯片功耗测量装置
实质审查的生效
摘要

本公开是关于一种功耗测量组件及方法、芯片功耗测量装置,涉及集成电路技术领域。该功耗测量组件包括:至少两个采样模块,分别串联在所述待测电路中;选通模块,用于选通所述至少两个采样模块中的一个;放大模块,用于采集选通的所述采样模块两端的电压信号并放大;处理模块,与所述选通模块、所述放大模块连接,用于控制调整选通的所述采样模块以及所述放大模块的放大倍数,并根据放大的所述电压信号计算功耗值,发送所述功耗值。本公开可以增大功耗测量组件的电流测量范围,满足更多种类的待测电路中电流的变化情况。

基本信息
专利标题 :
功耗测量组件及方法、芯片功耗测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114333971A
申请号 :
CN202011058673.4
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2020-09-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈鑫旺马茂松周张琴
申请人 :
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 :
北京律智知识产权代理有限公司
代理人 :
王辉
优先权 :
CN202011058673.4
主分类号 :
G11C29/50
IPC分类号 :
G11C29/50  G01R21/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验;备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/50
容限测试,例如,竞争、电压或电流测试
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/50
申请日 : 20200930
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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