一种芯片功耗的检测装置
授权
摘要
本实用新型实施例提供一种芯片功耗的检测装置，其中，芯片功耗的检测装置包括：检测源；与检测源连接的功耗激励产生模块，检测源发送使能信号至功耗激励产生模块，以使功耗激励产生模块产生激励信号；至少一个待检测模块，功耗激励产生模块与至少一个待检测模块连接，以使功耗激励产生模块将激励信号输入至目标待检测模块，以得到目标待检测模块的真实功耗。本实用新型实施例提供的芯片功耗的检测装置可以使功耗激励产生模块产生激励信号，用于待检测模块产生功耗，然后再使功耗激励产生模块将激励信号输入至目标待检测模块，从而可以得到目标待检测模块的真实功耗，以满足后续对芯片功耗分析的需求。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片功耗的检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022100292.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-22
授权号 ：
CN212255587U
授权日 ：
2020-12-29
发明人 ：
毛晟陈锴
申请人 ：
上海壁仞智能科技有限公司
申请人地址 ：
上海市闵行区陈行公路2388号16幢13层1302室
代理机构 ：
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 ：
马瑞
优先权 ：
CN202022100292.X
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R21/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-12-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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