一种三维相似模拟材料用多点位移测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种三维相似模拟材料用多点位移测量装置,包括多个位移测量机构和设置在位移测量机构上用于支撑位移测量机构的支撑机构;位移测量机构包括设置在三维相似材料内部的测量锚头、连接在测量锚头上的测量钢丝、以及与测量钢丝相连用于检测测量锚头位移变化的光栅尺。本实用新型通过设置位移测量机构,在三维相似材料模型发生变形时,带动测量锚头移动,使连接在测量钢丝上的光栅尺对位移的变化量进行测量,既能解决岩土工程中对位移采集的问题,使本位移测量装置不受地质条件和监测时间的限制,减少了测量费用;同时利用光栅尺对位移的变化量进行测量,测量精度高,且测量过程中对岩层影响较小。
基本信息
专利标题 :
一种三维相似模拟材料用多点位移测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021289262.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-03
授权号 :
CN213210139U
授权日 :
2021-05-14
发明人 :
柴敬王梓旭欧阳一博杨玉玉乔钰马晨阳刘义龙周余
申请人 :
西安科技大学
申请人地址 :
陕西省西安市雁塔中路58号
代理机构 :
西安众星蓝图知识产权代理有限公司
代理人 :
张倩
优先权 :
CN202021289262.1
主分类号 :
G01N33/24
IPC分类号 :
G01N33/24 G01B11/02 G01B11/16 G09B23/40
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/208
••涂料,例如镀层
G01N33/24
地面材料
法律状态
2021-05-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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