一种非标准PCIE3.0接口测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种非标准PCIE3.0接口测试装置，包括示波器主体，所述示波器主体的一侧固定设置有引出通道，所述引出通道连接有SMA线缆，所述SMA线缆的一端固定连接有连接探头，所述SMA线缆一端通过连接探头连接有夹具，所述夹具的四侧分别固定设置有第一金手指、第二金手指、第三金手指和第四金手指，所述夹具的板身上对应第一金手指设置有第一探测点和第二探测点。本实用新型中，夹具板表面分别对应设置有×1金手指、×4金手指、×8金手指和×16金手指，可以实现不同PCIE插槽的插接作业，设置探头，除连接夹具外，可以进行PCIE插口的储存波形检测，进而可以对PCIE接口进行发射接收实验，检测是否能够通过发射接收测试，从而实现非标准PCIE接口的检测作业。
基本信息
专利标题 ：
一种非标准PCIE3.0接口测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021303294.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-02
授权号 ：
CN212646962U
授权日 ：
2021-03-02
发明人 ：
毛键孙亮
申请人 ：
成都蓉盛国创科技有限公司
申请人地址 ：
北京市丰台区长云路2号院珠江御景27-26
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021303294.2
主分类号 ：
G01R31/69
IPC分类号 ：
G01R31/69
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/69
电缆或线束的末端端子的；插头的；插座的，例如电器中的墙壁插座或电源插座
法律状态
2021-03-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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