用于纳米CT的多轴联动定位系统
授权
摘要
本实用新型涉及检测定位设备领域，特别涉及一种用于纳米CT的多轴联动定位系统，包含：设置于光学平台上用于待检测物缩放比位移调整的缩放轴；与缩放轴滑台连接用于待检测物中心位置调整的偏置轴；与偏置轴滑台连接用于待检测物精准旋转定位的转台；及设置于转台上用于待检测物空间微调的XYZ联动轴，待检测物通过夹具与XYZ联动轴固定。本实用新型结构简单，设计新颖、科学合理，通过缩放轴、偏置轴、转台及XYZ联动轴配合，能够实现精准定位、稳定运动，提高纳米CT样品检测中固定的稳定性和更换样品的速度，提升定位精度和速度，经实践测试能够达到最小SOD为100um，且运行平稳、便于维修和安全性高，具有较强的推广应用价值。
基本信息
专利标题 ：
用于纳米CT的多轴联动定位系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021323291.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-08
授权号 ：
CN213022830U
授权日 ：
2021-04-20
发明人 ：
李磊韩玉席晓琦闫镔尹召乐孙艳敏王敬雨
申请人 ：
中国人民解放军战略支援部队信息工程大学
申请人地址 ：
河南省郑州市高新区科学大道62号
代理机构 ：
郑州大通专利商标代理有限公司
代理人 ：
周艳巧
优先权 ：
CN202021323291.5
主分类号 ：
G01N21/03
IPC分类号 ：
G01N21/03
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
G01N21/03
透明小容器结构
法律状态
2021-04-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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