基于多光谱的半导体智能检测装置
授权
摘要

本实用新型涉及工业自动化的技术领域,特别是涉及一种基于多光谱的半导体智能检测装置,其能够有效改善产品缺陷的检测效果,提高产品检测效率,降低使用局限性;包括工作台、多光谱成像处理器、电机、减速机、主动轴、从动轴和传送带,工作台的底端设置有四组支撑腿,多光谱成像处理器固定安装在工作台的顶端,多光谱成像处理器的前端设置有显示屏和光学镜头,工作台顶端的左右两侧分别对称的设置有两组左立板和两组右立板,电机和减速机固定安装一组左立板的前端,电机的输出端与减速机的输入端连接,主动轴通过与减速机输出端的连接转动安装在两组左立板上,从动轴转动安装在两组右立板上,传送带转动套装在主动轴和从动轴的圆周外壁上。

基本信息
专利标题 :
基于多光谱的半导体智能检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021341582.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-09
授权号 :
CN212780559U
授权日 :
2021-03-23
发明人 :
黄立
申请人 :
苏州富鑫林光电科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城16幢501室
代理机构 :
苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
吴竹慧
优先权 :
CN202021341582.7
主分类号 :
G01N21/892
IPC分类号 :
G01N21/892  G01N21/25  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/89
在移动的材料中,例如,纸张、织物中
G01N21/892
特征在于待测的瑕疵、缺陷或物品的特点
法律状态
2021-03-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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