一种便于取放的调光膜通电老化测试装置
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摘要

本实用新型公开了一种便于取放的调光膜通电老化测试装置,包括测试架、温度传感器和单片机,所述测试架的内壁上螺栓固定有温度传感器,且测试架顶部的内侧螺栓固定有单片机,所述测试架的后侧轴连接有把手,且把手的一端贯穿测试架连接有螺杆,所述螺杆轴连接于活动槽内,且活动槽开设于测试架的侧壁上,并且螺杆上螺纹套设有安装架,所述安装架的外侧一体设置有固定承托杆,所述移动槽的内壁与安装架的顶部之间贯穿开设有通槽,所述固定销的一端位于固定槽内,所述测试架后侧的内部开设有风槽内。该便于取放的调光膜通电老化测试装置,对不同规格的调光膜进行批量测试,同时便于调光膜的拿取和存放。

基本信息
专利标题 :
一种便于取放的调光膜通电老化测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021353768.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-11
授权号 :
CN212568888U
授权日 :
2021-02-19
发明人 :
周龙平李彬
申请人 :
扬州晶彩光电科技有限公司
申请人地址 :
江苏省扬州市高新区吉安南路158号金荣科技园创富工场4#南楼
代理机构 :
苏州翔远专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘计成
优先权 :
CN202021353768.4
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-02-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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