一种应用于输送线的精密电子元器件外观缺陷检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种应用于输送线的精密电子元器件外观缺陷检测装置，包括底座，所述底座下侧对称设有两个方形杆，所述方形杆的两端均固定连接支板，所述支板固定在底座下表面的棱角处，所述方形杆上套设有两个活动块，所述活动块一侧面开设有方形口，所述方形杆贯穿方形口，所述活动块上与方形口中轴线相平行的侧面上开设有用于穿插螺栓的安装孔，所述方形口内表面开设有螺纹通孔，所述螺纹通孔内啮合有夹紧螺栓，该一种应用于输送线的精密电子元器件外观缺陷检测装置可以实现安装结构位置的便捷调整，扩大适用范围。
基本信息
专利标题 ：
一种应用于输送线的精密电子元器件外观缺陷检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021361638.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-10
授权号 ：
CN213209879U
授权日 ：
2021-05-14
发明人 ：
陈宇
申请人 ：
深圳市联博自动化设备有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区坂田街道办岗头社区风门路金源工业园C栋一楼B
代理机构 ：
深圳知帮办专利代理有限公司
代理人 ：
刘水明
优先权 ：
CN202021361638.5
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/89
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2021-05-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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