一种半导体功率器件绝缘测试治具
授权
摘要
本实用新型公开了一种半导体功率器件绝缘测试治具，包括外壳，所述外壳内侧的中部固定安装有输出端竖向朝下的直线驱动机构，所述直线驱动机构的输出端水平固定安装有探针板，所述外壳的底部通过Y轴滑轨滑动设置有承载板，且Y轴滑轨的一端延伸出外壳；所述承载板上设置有安置模块的调节底座，所述调节底座是由安置于承载板上可沿着Y轴方向平移调节位置的母板以及滑动设置于母板上侧的凹槽内部沿X轴滑动调节位置的子板构成，所述子板上开设有用于安置模块的内沟槽。该测试治具，可以方便快捷的完成半导体功率器件的测试工作，检测效率高，并且可根据实际测试半导体功率器件规格调整端子与探针接触，操作简单，适用性更强。
基本信息
专利标题 ：
一种半导体功率器件绝缘测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021377721.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-14
授权号 ：
CN212905259U
授权日 ：
2021-04-06
发明人 ：
户宝利黄磊
申请人 ：
合肥中恒微半导体有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市高新区创新大道与明珠大道交叉口106号5号楼2层C区
代理机构 ：
合肥律众知识产权代理有限公司
代理人 ：
练兰英
优先权 ：
CN202021377721.1
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R31/12 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-04-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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