一种正交点激光双测头位姿标定试件
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摘要

本实用新型公开了一种正交点激光双测头位姿标定试件,其包括三个轴段:装夹轴段、水平测头标定轴段、竖直测头标定轴段;装夹轴段包括夹紧棱柱面和定位圆柱面;水平测头标定轴段包括校准圆柱面、校准偏心圆柱面,以及按标定工位顺序分布的周边找正平面、凸台式阶梯面、“十”字槽、周边校准凸台;竖直测头标定轴段包括圆环式阶梯面、顶部校准凸台、顶部找正平面、“T”型槽;在标定过程中,该试件可满足在正交坐标系对水平测头与竖直测头的标定与校准,相对于单测头位姿标定试件,该试件可有效提高测量范围,并利用多个特征面校准,降低了点激光测头安装过程的俯仰与偏摆误差以及两个测头坐标系的标定误差。

基本信息
专利标题 :
一种正交点激光双测头位姿标定试件
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021390210.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-15
授权号 :
CN212205973U
授权日 :
2020-12-22
发明人 :
陈珂胡鑫汪永超
申请人 :
四川大学
申请人地址 :
四川省成都市武侯区一环路南一段24号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021390210.3
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2020-12-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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