绝缘子表面电荷测量系统

授权

摘要

本实用新型公开一种绝缘子表面电荷测量系统，涉及电力设备领域，用于对绝缘子的表面电荷量进行测量。该测量系统包括：直流电源；高压导杆，其第一端连接至直流电源；绝缘套管，套设于高压导杆外；金属腔体，具有第一接口、第二接口及第三接口，第一接口与绝缘套管的第二端密封连接，高压导杆的第二端延伸至金属腔体的内部；第一支撑导杆，穿过第二接口，且其第一端与高压导杆的第二端用于夹持待测绝缘子；静电检测装置，包括活动杆和设置于活动杆上的静电探头，活动杆穿过第三接口，静电探头用于检测待测绝缘子的表面电荷量。本实用新型提供的测量系统，可以确定待测绝缘子的电荷积聚特性，进而确定绝缘子是否具有承受特高压直流的能力。

基本信息

专利标题：

绝缘子表面电荷测量系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021392050.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-15

授权号：

CN212301702U

授权日：

2021-01-05

发明人：

刘杉

申请人：

全球能源互联网研究院有限公司

申请人地址：

北京市昌平区未来科技城滨河大道18号

代理机构：

北京中博世达专利商标代理有限公司

代理人：

申健

优先权：

CN202021392050.6

主分类号：

G01R29/24

IPC分类号：

G01R29/24 G01R31/52 G01R31/12