孔口测绘及表面时间测量系统
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明包括孔口测绘系统。该系统具有一个或多个用于测量孔口直径的高分辨率超声波测绘传感器，用各传感器垂直射入的脉冲到达孔口表面并返回各传感器的传送时间和校验孔内所测参考反射时间，并用超声波脉冲在浸没液体内的已知速度，从机械地测到的参考直径来决定被测直径，对各轴向转子位置将各传感器所测直径平均以得到平均测量直径；还包括表面时间测量系统。该系统至少有一测量定向射线到达孔口表面并由此返回的所需测距时间的测距传感器。
基本信息
专利标题 ：
孔口测绘及表面时间测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN87104400A
申请号 ：
CN87104400.5
公开（公告）日 ：
1988-02-03
申请日 ：
1987-06-25
授权号 ：
CN1011544B
授权日 ：
1991-02-06
发明人 ：
劳伦斯D·诺丁汉汤马斯E·米歇尔詹尼弗E·米歇尔
申请人 ：
西屋电气公司
申请人地址 ：
美国宾夕法尼亚州
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
邓明
优先权 ：
CN87104400.5
主分类号 ：
G01B17/00
IPC分类号 ：
G01B17/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B17/00
以采用次声波、声波、超声波振动为特征的计量设备
法律状态
1993-05-05 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1991-09-25 ：
授权
1991-02-06 ：
审定
1989-10-11 ：
实质审查请求
1988-02-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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