一种S、PIM参数公用测试跳线
授权
摘要
本实用新型公开了一种S、PIM参数公用测试跳线，包括：接口连接壳体、电缆连接壳体、以及依次连接的插针、射频同轴电缆；插针上套设有绝缘套管，射频同轴电缆的末端套设有管道型定位件；接口连接壳体套设在绝缘套管上，管道型定位件的末端对应绝缘套管设有第一连接限位块，电缆连接壳体对应该第一连接限位块与接口连接壳体连接；插针的首端设有插槽，射频同轴电缆的线芯插置于该插槽中与插针无缝隙连接。本实用新型结构设计合理巧妙，结构简单，抗损耗性能强，适用的频率宽，适用于S、PIM参数的传输获取，可实现S、PIM参数的公用，不会因抗损耗或互调指标不达标而导致S、PIM参数的失真；另外，有效降低了生产成本并简化产品组装流程。
基本信息
专利标题 ：
一种S、PIM参数公用测试跳线
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021443329.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-21
授权号 ：
CN213813791U
授权日 ：
2021-07-27
发明人 ：
黎锦兴高浩哲李世超尹志华刘青龙李鹏辉
申请人 ：
东莞市振亮精密科技有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市虎门镇怀德社区大禾横坑厂区6号
代理机构 ：
东莞市兴邦知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
梁首强
优先权 ：
CN202021443329.2
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 H01R24/40 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-07-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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