半导体参数测试机构
授权
摘要
本实用新型涉及的一种半导体参数测试机构，包括输送流道，沿输送流道的输料方向依次设置有第一缓冲组件、定位组件、第二缓冲组件，所述定位组件的上方设置有参数测试组件，所述第一缓冲组件用以控制待测产品有序输送，通过定位组件将待测产品进行定位，参数测试组件对其进行参数测试，所述第二缓冲组件用以控制已测产品有序输送。本实用新型一种半导体参数测试机构具有自动化、减小测量误差、提高生产效率的优点。
基本信息
专利标题 ：
半导体参数测试机构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922151824.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-04
授权号 ：
CN211698061U
授权日 ：
2020-10-16
发明人 ：
陈伟徐勇叶建国韩宙
申请人 ：
江阴亨德拉科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市江阴市高新区澄山路609号
代理机构 ：
江阴市轻舟专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
曹键
优先权 ：
CN201922151824.X
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 B65G47/88
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-10-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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