一种半导体用测试机构
授权
摘要
本实用新型公开了一种半导体用测试机构，包括测试台，所述测试台上侧中部通过转轴安装有定位支架，所述定位支架上端两侧安装有定位夹具，所述测试台上侧安装有上支架，所述上支架内顶部通过丝杠安装有第一气缸，所述第一气缸下端安装有测试设备，所述测试设备设置在定位支架上部，所述转轴下端通过齿轮组传动连接有第一电机，所述上支架外侧安装有PLC控制柜，本实用新型通过定位支架上端两侧安装有定位夹具，便于对半导体两端进行夹持定位处理，定位稳定性高，而且上支架内顶部通过丝杠安装有第一气缸，测试设备安装在第一气缸下端，使得便于调整测试设备的使用位置，有利于提高测试的效率。
基本信息
专利标题 ：
一种半导体用测试机构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123034059.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-06
授权号 ：
CN216434277U
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
范彩凤
申请人 ：
上海北臻电子科技有限公司
申请人地址 ：
上海市金山区枫泾镇环东一路65弄2号3541室
代理机构 ：
上海海贝律师事务所
代理人 ：
王文锋
优先权 ：
CN202123034059.7
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-05-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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