一种用于集成电路自动测试机的小电流量测校准架构
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于集成电路自动测试机的小电流量测校准架构，包括直流校正板、电压表以及外部控制系统；直流校正板与集成电路自动测试机连接，形成一通路，通路上串联有基准电阻；电压表与基准电阻并联，用于测量基准电阻两端的电压；外部控制系统分别与数字万用表和集成电路自动测试机电信号连接，其用于向集成电路自动测试机发生测试信号使得集成电路自动测试机进行测试状态，同时获取并处理电压表发出的信号，得到电流实测值，并对电流实测值进行补偿，得到电流输出值。本实用新型，克服了现有技术磁场干扰导致数值失真的缺陷，通过引入基准电阻并测量电压实现集成电路自动测试机的小电流的准确量测；结构简单，成本低廉，应用前景好。
基本信息
专利标题 ：
一种用于集成电路自动测试机的小电流量测校准架构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021470834.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-23
授权号 ：
CN213210440U
授权日 ：
2021-05-14
发明人 ：
张经祥魏津徐润生
申请人 ：
胜达克半导体科技（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市青浦区清河湾路1130号1幢1层
代理机构 ：
上海唯智赢专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王圣
优先权 ：
CN202021470834.6
主分类号 ：
G01R35/00
IPC分类号 ：
G01R35/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2021-05-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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