一种用于电路板测试的控制平台
授权
摘要
本实用新型提供一种用于电路板测试的控制平台。包括控制系统以及分别与所述控制系统独立连接的：待测层、测试层、探针层以及用于将所述待测层上的待测电路板转移到所述测试层上进行测试的电路板通道，并将经过所述测试层测试后的电路板进行分类输送；所述待测层、探针层和测试层至上而下依次套设在所述电路板通道上。本实用新型使得待测电路板一个接一个有序进行测试，测试完成后根据测试结果进行分类收集，实现大批量待测电路板的全自动化测试，明显提高了生产测试的效率，大大地节省人力。
基本信息
专利标题 ：
一种用于电路板测试的控制平台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021478817.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-23
授权号 ：
CN213122194U
授权日 ：
2021-05-04
发明人 ：
席涛洪杰燊何建方滕世国王祥达李建霖李国威汤达斌王鹏郭甲李萍朱波陈功锦杨秀平梁祖勤张凌李华香
申请人 ：
韶关东阳光自动化设备有限公司
申请人地址 ：
广东省韶关市乳源县乳城镇龙船湾下坝开发区模具车间三号厂房
代理机构 ：
广州粤高专利商标代理有限公司
代理人 ：
陈嘉毅
优先权 ：
CN202021478817.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04 B07C5/344
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-05-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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