一种高能射线探测器用闪烁晶体阵列装置
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摘要

本实用新型公开了一种高能射线探测器用闪烁晶体阵列装置,包括固定板,所述固定板下端插设有底板,且固定板上端插设有推杆,所述推杆一侧设置有夹板,所述夹板之间设置有拦截塑料,且拦截塑料为波纹形结构,所述拦截塑料内壁设置有隔板,且隔板内部插设有闪烁晶体主体,所述隔板位于底板上方,且底板底部设置有基板。该高能射线探测器用闪烁晶体阵列装置通过在固定板上插设底板,在固定板内壁设置夹板和拦截塑料,通过夹板和拦截塑料将闪烁晶体主体限位在底板上,并使用隔板分隔闪烁晶体主体,从而对闪烁晶体主体起到预排列的作用,随后通过将底板放置到基板上抽掉底板则可以使闪烁晶体主体进入到基板的内部,从而提高闪烁晶体主体的固定效率。

基本信息
专利标题 :
一种高能射线探测器用闪烁晶体阵列装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021502106.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-27
授权号 :
CN212694067U
授权日 :
2021-03-12
发明人 :
李国铭李俊谕刘冰边建盟张泽森程豪华
申请人 :
三河晶丽方达科技有限公司
申请人地址 :
河北省廊坊市三河市燕郊开发区迎宾北路创业大厦B235室
代理机构 :
北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
姚朝权
优先权 :
CN202021502106.9
主分类号 :
G01T1/202
IPC分类号 :
G01T1/202  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/20
用闪烁探测器
G01T1/202
闪烁体是晶体的
法律状态
2021-03-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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