一种宽光谱高分辨光谱仪
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摘要

本实用新型公开了一种宽光谱高分辨光谱仪,其包括光纤、狭缝、分时光谱切分组件、多个准直单元、色散单元、聚焦单元和探测器,入射光由光纤入射至狭缝后,由分时光谱切分组件进行光谱切分,不同波段的光在不同的准直单元上进行准直,准直后的光分时入射至色散单元,由色散单元进行色散,色散后的光由聚焦单元聚焦至探测器。本实用新型宽光谱高分辨光谱仪通过在光路中加入分时光谱切分组件,可以对光谱进行切分,切分后的不同波长的光在不同的准直单元上准直,并分时入射至色散单元进行色散,最后由聚焦单元聚焦至探测器,实现在时域上将整个光谱切割成多段并分别成型在探测器上,拼接后形成宽光谱,在不牺牲光谱波段的提同时提升了光谱分辨率。

基本信息
专利标题 :
一种宽光谱高分辨光谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021504870.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-27
授权号 :
CN213274576U
授权日 :
2021-05-25
发明人 :
肖伟蔡志坚
申请人 :
苏州朝光光电有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市相城区元和街道采莲路1039-417室
代理机构 :
苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张荣
优先权 :
CN202021504870.X
主分类号 :
G01J3/28
IPC分类号 :
G01J3/28  G01J3/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2021-05-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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