一种反射法测量切割凹透镜光轴位置度装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种反射法测量切割凹透镜光轴位置度装置，该测量装置包括光源、平行光管、CCD、样品台、设备平台。本实用新型提供了一种利用切割凹透镜的反射焦点位置偏离量从而测量光轴位置度装置，本实用新型同时具有结构简单，测试精准，操作方便的特点。
基本信息
专利标题 ：
一种反射法测量切割凹透镜光轴位置度装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021514453.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-28
授权号 ：
CN212674417U
授权日 ：
2021-03-09
发明人 ：
陈鼎炜吴玉芬宋龙廖洪平陈伟张星陈秋华
申请人 ：
福建福晶科技股份有限公司
申请人地址 ：
福建省福州市软件大道89号F区9号楼
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021514453.3
主分类号 ：
G01M11/04
IPC分类号 ：
G01M11/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/04
••其光学实验台
法律状态
2021-03-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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