一种移相器S参数自动测试系统
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摘要

一种移相器S参数自动测试系统,包括移相电路、矢量网络分析仪、移相器测试工装、上位机和打印机,移相器测试工装一端口与矢量网络分析仪一端口相连,移相器测试工装二端口与矢量网络分析仪二端口相连,移相器测试工装三端口与移相电路相连,上位机分别与矢量网络分析仪、移相电路、打印机相连。相对于传统的测试方法通过手动拨码测试人工记录数据,本系统测试简单、利于操作并且可以大大提高生产效率,节约人工成本实现自动化生产。

基本信息
专利标题 :
一种移相器S参数自动测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021530677.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-29
授权号 :
CN212781030U
授权日 :
2021-03-23
发明人 :
金鹏
申请人 :
南京汉瑞微波通信有限公司
申请人地址 :
江苏省南京市江宁区高湖路105号B栋2楼
代理机构 :
南京正联知识产权代理有限公司
代理人 :
刘悦
优先权 :
CN202021530677.3
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-03-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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