一种带有保护结构的芯片检测仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种带有保护结构的芯片检测仪,包括外箱、底板和检测探针,所述底板顶端的中间位置处固定连接有外箱,且外箱内部底端的两端均固定连接有升降箱,所述升降箱内部的中间位置处转动连接有丝杆,且丝杆的外壁套设有套筒,所述套筒之间固定连接有支撑板,且支撑板顶端的中间位置处固定连接有控制箱,所述控制箱顶端的中间位置处固定连接有夹持结构,且控制箱的背面固定连接有安装框,所述安装框的顶端固定连接有顶盖,且安装框内部的顶端固定连接有气缸,所述气缸的输出端固定连接有缓冲箱。该实用新型通过将整个检测装置收入外箱内部进行存储,形成隔离防护,避免外界碰撞或灰尘等因素对检测探针造成损伤。
基本信息
专利标题 :
一种带有保护结构的芯片检测仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021546580.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-30
授权号 :
CN213121989U
授权日 :
2021-05-04
发明人 :
高强壮
申请人 :
深圳中科云信息技术有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区西丽街道高新北六道27号兰光科技园A栋507C
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021546580.1
主分类号 :
G01R1/02
IPC分类号 :
G01R1/02 G01R1/04 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
法律状态
2021-05-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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