本实用新型公开了一种多级下压式芯片检测仪，包括机架、底座和探针，所述底座正面的中间位置处固定连接有控制面板，且底座的顶端竖向固定连接有机架，所述机架顶端的中间位置处固定连接有气动伸缩杆，且气动伸缩杆的输出端贯穿机架顶端并横向固定连接有活动板，所述缓冲板的底端均匀固定连接有活动槽，所述活动槽的内部均竖向滑动连接有活动杆，所述活动杆的底端均固定连接有固定箱，且固定箱内部顶端均竖向设置有延伸至固定箱外部的探针。通过在缓冲板底端设置活动杆和活动槽，利用活动杆在活动槽内部的滑动，使得装置可以调节探针不同的高度，便于适用于不同类型的芯片，提高装置的实用性。