芯片模组检测用连动下压装置
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摘要

本实用新型公开了芯片模组检测用连动下压装置,包括底座,底座上对称连接有压紧装置,压紧装置包括连接底板和对称连接在连接底板上的固定座,两侧的固定座之间活动连接有压板装置和传动装置,传动装置和压板装置相连接;压板装置具有第一状态和第二状态,在第一状态,两侧压紧装置中的压板装置对产品压紧,在第二状态,两侧压紧装置中的压板装置松开产品;传动装置用于带动压板装置运动至第一状态或第二状态;本装置在底座上连接压紧装置,压紧装置包括传动装置和压板装置,通过传动装置运动带动压板装置运动,压板装置运动至第一状态时能够有效地对底座上的产品进行压紧,通过两端对产品进行压紧保证了产品压紧的效果。

基本信息
专利标题 :
芯片模组检测用连动下压装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021592708.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-04
授权号 :
CN213275848U
授权日 :
2021-05-25
发明人 :
张卡陈恩环钞金龙刘利川王波
申请人 :
苏州尚实豪精密机械科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市昆山市玉山镇环庆路2618号12号房
代理机构 :
南京纵横知识产权代理有限公司
代理人 :
董建林
优先权 :
CN202021592708.8
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-05-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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