本实用新型公开了一种具有光学测试功能的垂直探针卡，包括垂直探针卡、接触被测器件上电子元件的主体部、接触测试部和发光测试部，所述主体部包括接触探针、下板、上板、导块和探针接口，所述被测器件顶部设置有下板，所述下板内部开设有下导孔，所述下板内部开设有下插孔，所述下导孔内部设置有接触探针，所述接触探针底端与下导孔内部相匹配。本实用新型通过发光体被固定支撑在通过上下移动体来上下移动的发光支架上，发光量较少时，使其下降靠近发光元件，需要减少光量时，使其上升远离发光元件，发光体通过调整发光体的高度即可调光量，无需其他光量调节装置，不仅可以简化装置，还可以提高使用便利性。