一种二维偏馈式波束扫描反射阵列天线
授权
摘要
本实用新型提供了二维偏馈式波束扫描平面反射阵列天线，通过纵向偏焦改善了方向图和增益，能够实现宽角扫描，通过结合外部机械装置实现两个维度的移动，随着扫描角的增大，引入径向调控可以减小扫描过程中造成的相位误差，改变馈源移动轨迹，即在圆弧轨迹的基础上引入纵向偏焦来实现X波段内的宽角扫描，通过纵向偏焦改善了方向图和增益，并且具有低成本、低损耗、易于加工等优点。
基本信息
专利标题 ：
一种二维偏馈式波束扫描反射阵列天线
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021733370.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-19
授权号 ：
CN213071323U
授权日 ：
2021-04-27
发明人 ：
蔡洋曹玉凡李森景梦娇吴涛
申请人 ：
中国人民解放军战略支援部队航天工程大学
申请人地址 ：
北京市怀柔区雁栖镇八一路一号
代理机构 ：
北京理工大学专利中心
代理人 ：
代丽
优先权 ：
CN202021733370.3
主分类号 ：
H01Q1/12
IPC分类号 ：
H01Q1/12 H01Q1/38 H01Q3/08
法律状态
2021-04-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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