一种可形成不同温度环境的产品测试设备
授权
摘要

本实用新型公开了一种可形成不同温度环境的产品测试设备,其包括:安装架;温度控制组件,其连接所述安装架;数据处理组件,其连接温度控制组件;产品安装架,其用于安装待测试产品,且待测试产品直接接触所述温度控制组件,且同时连接所述数据处理组件;以及控制终端,其分别连接所述温度控制组件以及数据处理组件,用于通过控制温度控制组件运行,以形成不同的温度环境,以及通过数据处理组件获取待测试产品在不同温度环境下的工作参数。本实用新型可以通过精确控温模拟出不同的温度环境,以此在不同环境温度下实现批量测试红外模组等电子产品的工作状态,以满足消费类电子产品批量生产需求。

基本信息
专利标题 :
一种可形成不同温度环境的产品测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021810634.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-26
授权号 :
CN213069046U
授权日 :
2021-04-27
发明人 :
徐伟黄晟王鹏
申请人 :
武汉高德智感科技有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区黄龙山南路6号武汉高德红外工业园4栋3-6层
代理机构 :
北京集智东方知识产权代理有限公司
代理人 :
吴倩
优先权 :
CN202021810634.0
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G05D23/19  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-04-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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