一种硅片检测自动对焦装置
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摘要

本实用新型属于硅片检测领域,具体为一种硅片检测自动对焦装置,包括装置底板,所述装置底板的顶部固定安装有外框体和侧框体,所述外框体内侧的底面固定安装有光源,所述外框体的内侧设置有固定透镜片和调节透镜片。该硅片检测自动对焦装置,通过侧框体内侧螺纹柱的设置,便于通过旋转握环对移动板的高度进行调节,进而便于对调节透镜片进行第一步调节,配合上调节透镜片外侧握把的设置,能够利用握把带动连杆在凹槽的内侧进行旋转,进而达到对调节透镜片进行第二步调节的效果,双重调节的设置便于将光源射出的光线穿过固定透镜片对焦到硅片上任意一点,达到对硅片进行高效对焦的效果,解决了现有装置对于硅片对焦效果较差的问题。

基本信息
专利标题 :
一种硅片检测自动对焦装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021820821.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-26
授权号 :
CN213121630U
授权日 :
2021-05-04
发明人 :
高培成
申请人 :
山东民峰智能科技有限公司
申请人地址 :
山东省济南市章丘区明水经济开发区轻骑路东侧(济南民峰塑料公司)3#车间
代理机构 :
济南鼎信专利商标代理事务所(普通合伙)
代理人 :
曹玉琳
优先权 :
CN202021820821.7
主分类号 :
G01N21/84
IPC分类号 :
G01N21/84  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2021-05-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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