自动对焦装置、面板检测设备及其方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种自动对焦装置、面板检测设备、自动对焦方法和面板检测方法。自动对焦装置包括:测距单元、图像采集单元、驱动单元和连接测距单元与驱动单元的控制单元,驱动单元连接图像采集单元和测距单元。测距单元用于检测图像采集单元和目标对象之间的距离,当距离在预设距离范围内时,测距单元发送预定信号给控制单元,否则,不发送预定信号。控制单元用于基于预定信号控制驱动单元驱动图像采集单元和测距单元一起运动,以使得目标对象成像于图像采集单元的焦点处。因此,可以避免由于目标对象存在凹陷、异物等的影响而测距单元做出响应,使目标对象的感兴趣区域拍照模糊。由此,保证目标对象的感兴趣区域的成像质量,显著提高成像质量。

基本信息
专利标题 :
自动对焦装置、面板检测设备及其方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114384091A
申请号 :
CN202111545227.0
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2021-12-16
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
朱小明王兴忠马从高戴斌匡梦良
申请人 :
苏州镁伽科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区兴浦路200号1#101、201单元
代理机构 :
北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
徐丁峰
优先权 :
CN202111545227.0
主分类号 :
G01N21/956
IPC分类号 :
G01N21/956  G01S17/48  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
G01N21/956
检测物品表面上的图案
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/956
申请日 : 20211216
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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