一种自动化硅片检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及晶体硅太阳能电池组件制造领域内的一种自动化硅片检测装置，包括底座，底座直接固定安装在工作台面上，所述底座上包括检测区域和待检测区域，检测区域固定安装有检测机构，待检测区域设置有输送机构；所述输送机构对应检测机构设置，所述检测机构设置有若干组；所述检测机构包括检测支架，配合检测支架设置的移动组件，设置在移动组件上的检测组件；所述输送机构包括输送底座，安装在输送底座上的输送移动组件，设置在输送移动组件上的待检测工作台；该实用新型通过检测机构实现对待检测工作台上的硅片进行循环快速检测，提高工作效率，降低成本。
基本信息
专利标题 ：
一种自动化硅片检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020383746.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-24
授权号 ：
CN211696324U
授权日 ：
2020-10-16
发明人 ：
嵇峰
申请人 ：
江苏晶科天晟能源有限公司
申请人地址 ：
江苏省扬州市宝应县氾水镇工业集中区跃胜路
代理机构 ：
南京苏科专利代理有限责任公司
代理人 ：
陈亮
优先权 ：
CN202020383746.6
主分类号 ：
G01B21/20
IPC分类号 ：
G01B21/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/20
用于计量轮廓或曲率，例如测定外形
法律状态
2020-10-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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