硅片减薄量检测装置
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要

本实用新型提供了一种硅片减薄量检测装置,包括沿传送方向间隔设有上料区、硅片处理区、下料区的输送带,至少两组检测模块,至少一组检测模块与所述上料区相对应,至少一组检测模块与所述下料区相对应;所述检测模块包括取放单元和称重单元,所述取放单元包括抓取机构、驱动所述抓取机构移动的驱动机构,所述称重单元包括称重台,所述控制模块与所述输送模块、所述取放单元、所述称重单元均通讯连接,取代了人工检测,实现自动化检测减薄量的效果,减少因人工漏测、误测造成的品质异常情况;节约了人力成本,降低返工的制造成本。

基本信息
专利标题 :
硅片减薄量检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920785837.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-05-28
授权号 :
CN209822597U
授权日 :
2019-12-20
发明人 :
易书令马晓林潘岳林姜大俊潘励刚郑旭然
申请人 :
盐城阿特斯阳光能源科技有限公司;阿特斯阳光电力集团有限公司
申请人地址 :
江苏省盐城市经济技术开发区黄浦江路66号(G)
代理机构 :
苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
杨林洁
优先权 :
CN201920785837.X
主分类号 :
H01L21/66
IPC分类号 :
H01L21/66  H01L31/18  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/66
在制造或处理过程中的测试或测量
法律状态
2021-03-02 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : H01L 21/66
变更事项 : 专利权人
变更前 : 盐城阿特斯阳光能源科技有限公司
变更后 : 盐城阿特斯阳光能源科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 224000 江苏省盐城市经济技术开发区黄浦江路66号(G)
变更后 : 224000 江苏省盐城市经济技术开发区黄浦江路66号(G)
变更事项 : 专利权人
变更前 : 阿特斯阳光电力集团有限公司
变更后 : 阿特斯阳光电力集团股份有限公司
2019-12-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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