一种标准试样尺寸测量系统

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摘要

为了解决现有技术中针对试样的测量方式存在无法对试样分类的问题，本实用新型提供一种标准试样尺寸测量系统，包括机架、传送机械手、上位机以及设置在机架上的扫码组件、固定组件、喷码组件、测量组件。本实用新型所述的装置通过视觉装置或工作站预置样品类型数据库，通过测量结果及数据库的对照，解决了不同类型样品同时进行尺寸测量时的试样类型识别，分类，打码等问题，减少了人工识别的时间及失误。

基本信息

专利标题：

一种标准试样尺寸测量系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021829372.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-08-27

授权号：

CN212082286U

授权日：

2020-12-04

发明人：

吴博庞承焕程春锋李卫领肖星

申请人：

国高材高分子材料产业创新中心有限公司

申请人地址：

广东省广州市高新技术产业开发区科学城科丰路33号

代理机构：

深圳智趣知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

李兴生

优先权：

CN202021829372.2

主分类号：

G01B11/00

IPC分类号：

G01B11/00