一种纯机械式的高精度位移测微仪器

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摘要

本实用新型属于检测器技术领域，尤其为一种纯机械式的高精度位移测微仪器，包括底座、立柱、分度头、校准杆以及校准架，所述底座上端固定有立柱，所述立柱的侧面开设有限位槽，所述立柱远离所述底座的一端开设有螺纹槽，所述底座上活动安装有第一支杆，所述第一支杆远离所述立柱的一端活动安装有活动块，所述加长轴的一端设置有螺纹柱，所述螺纹柱安装在所述螺纹槽的内部，所述加长轴上活动安装有第二支杆，所述第一支杆上活动安装有分度头，所述第二支杆上活动安装有校准杆，所述校准杆的一端两侧安装有校准架，通过将底座设置有“U”形状，使底座的结构更加的稳定，通过底座支撑装置时候，使装置的稳定性更加的好。

基本信息

专利标题：

一种纯机械式的高精度位移测微仪器

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021891162.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-09-02

授权号：

CN212843298U

授权日：

2021-03-30

发明人：

王潇

申请人：

上海大分计量仪器设备有限公司

申请人地址：

上海市浦东新区川沙路1098号8幢

代理机构：

北京纪凯知识产权代理有限公司

代理人：

陆惠中

优先权：

CN202021891162.6

主分类号：

G01B5/02

IPC分类号：

G01B5/02