摆式仪及其量尺
授权
摘要
本实用新型公开了一种摆式仪及其量尺，该量尺包括尺身以及设置在所述尺身上的第一刻度条，所述第一刻度条上设有用于显示测量物在自由状态下接触待测面位置偏离量的第一刻度线，所述偏离量和待测面的倾斜度一一对应，其中，所述偏离量表示测量物在自由状态下接触待测面位置偏离所述第一刻度条基准位置的偏离距离。在获取待测面倾斜度的情况下，通过设置在第一刻度条上用于显示测量物在自由状态下接触待测面位置偏离量的第一刻度线，即可确定待测面倾斜度对应的偏离量，从而提高后续测量待测面摩擦系数的精确度。
基本信息
专利标题 ：
摆式仪及其量尺
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021991410.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-11
授权号 ：
CN213068598U
授权日 ：
2021-04-27
发明人 ：
王文忠赵德雄林均榕周磊
申请人 ：
健研检测集团有限公司
申请人地址 ：
福建省厦门市思明区湖滨南路62号十楼、十一楼
代理机构 ：
深圳市韦恩肯知识产权代理有限公司
代理人 ：
李华双
优先权 ：
CN202021991410.4
主分类号 ：
G01N19/02
IPC分类号 ：
G01N19/02 G01B5/02 G01B21/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N19/00
用机械方法测试材料
G01N19/02
测量材料之间的摩擦系数
法律状态
2021-04-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
